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1、參數(shù)設(shè)計

參數(shù)設(shè)計(parameter design)在系統(tǒng)設(shè)計之后進行。參數(shù)設(shè)計的基本思想是通過選擇系統(tǒng)中所有參數(shù)(包括原材料、零件、元件等)的最佳水平組合，盡量減少外部、內(nèi)部和產(chǎn)品間三種干擾的影響，使所設(shè)計的產(chǎn)品質(zhì)量特性波動小、穩(wěn)定性好。另外，在參數(shù)設(shè)計階段，一般選用能滿足使用環(huán)境條件的最低質(zhì)量等級的元件和性價比高的加工精度來進行設(shè)計，使產(chǎn)品的質(zhì)量和成本兩方面均得到改善。參數(shù)設(shè)計主要適用于優(yōu)化設(shè)計(O)階段。

2、容差設(shè)計

容差設(shè)計(tolerance design)在完成系統(tǒng)設(shè)計和由參數(shù)設(shè)計確定了可控因素的最佳水平組合后進行，此時各元件的質(zhì)量等級較低，參數(shù)波動范圍較寬。

容差設(shè)計的基本思想如下:根據(jù)各參數(shù)的波動對產(chǎn)品質(zhì)量特性貢獻(影響)的大小，從經(jīng)濟性角度考慮有無必要對影響大的參數(shù)給予較小的容差(例如用較高質(zhì)量等級的元件替代較低質(zhì)量等級的元件)。這樣做，一方面可以進一步減少質(zhì)量特性的波動，提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性，減少質(zhì)量損失;另一方面，由于提高了元件的質(zhì)量等級，使產(chǎn)品的成本有所提高。因此，容差設(shè)計階段既要考慮進一步減少在參數(shù)設(shè)計后產(chǎn)品仍存在的質(zhì)量損失，又要考慮縮小一些元件的容差將會增加成本，要權(quán)衡兩者的利弊得失，采取最佳決策。容差設(shè)計主要適用于優(yōu)化設(shè)計(O)階段。

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3、FMEA分析

通過FMEA分析，找出影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的各種潛在的質(zhì)量問題和故障模式及其危害度和原因(包括設(shè)計缺陷、工藝問題、環(huán)境因素、老化、磨損和加工誤差等)，經(jīng)采取設(shè)計和工藝的糾正措施，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和抗各種干擾的能力。FMEA分析主要適用于界定(D)和設(shè)計(D)階段。

4、面向X的設(shè)計(DFX)

顧客對于產(chǎn)品全壽命周期內(nèi)的特性，例如可靠性、壽命、使用維護、保修期、備件耗材的保障、不污染環(huán)境、全壽命周期的費用等均有明示的或隱含的要求。產(chǎn)品質(zhì)量特性的實現(xiàn)和成本的形成也受到結(jié)構(gòu)設(shè)計方案以外的許多因素如工藝、制造、裝配，檢驗、使用維護、保障服務(wù)、研制周期、成本控制等的影響和制約。因此，為了在產(chǎn)品全壽命周期內(nèi)增強顧客滿意，必須針對有關(guān)的各種要素X，進行面向X族的設(shè)計(DFX)，所謂DFX，本質(zhì)上就是面向產(chǎn)品全壽命周期的設(shè)計。DFX技術(shù)主要適用于界定(D)、設(shè)計(D)和優(yōu)化(O)階段。

5、設(shè)計驗證技術(shù)

主要包括設(shè)計評審、小子樣SPC、仿真試驗、雙V試驗、可靠性試驗、壽命試驗、鑒定試驗、DFSS計分卡等。應(yīng)用設(shè)計驗證技術(shù)在IDDOV的界定(D)、設(shè)計(D)和優(yōu)化(O)三個階段對設(shè)計輸出是否符合設(shè)計輸入的要求進行驗證。在設(shè)計驗證(V)階段，對樣機制造的過程能力和樣機的功能、性能和可靠性等進行全面的驗證，以確保產(chǎn)品的研制質(zhì)量達到預期的目標、滿足顧客的要求。